IV. Internationaler Kongress fuer Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie Electronique. Berlin, 10.-17. September 1958: Band 1: Physikalisch-technischer Teil
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出版社: Springer(2014-12-04)
ペーパーバック: 870 ページ / 21.0 x 4.4 x 27.9 cm
ISBN-10: 3642501966 ISBN-13: 9783642501968