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Biometric Quality: The Last 1%: Biometric Quality Assessment for Error Suppression

Tabassi, Elham（著） Grother, Patrick（著） National Institute of Standards and Technology (Nist)（著）

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出版社: Createspace Independent Pub(2008-11-30)

ペーパーバック: 68 ページ / 21.6 x 0.4 x 27.9 cm

ISBN-10: 1495984508 ISBN-13: 9781495984501