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Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy (RMS - Royal Microscopical Society)
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詳しい情報
出版社: Wiley(2018-04-30)
ハードカバー: 296 ページ / 15.7 x 2.0 x 23.1 cm
ISBN-10: 1118456092 ISBN-13: 9781118456095