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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
詳しい情報
出版社: Springer(1998-10-31)
ハードカバー: 203 ページ / 15.6 x 1.3 x 23.4 cm
ISBN-10: 0792382951 ISBN-13: 9780792382959