(2026/02/05 20:43:25時点)

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)

Strong, Alvin W.（著） Wu, Ernest Y.（著） Vollertsen, Rolf-Peter（著） Sune, Jordi（著） La Rosa, Giuseppe（著） Sullivan, Timothy D.（著） Rauch III, Stewart E.（著）

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出版社: Wiley-IEEE Press(2009-08-24)

ハードカバー: 640 ページ / 16.4 x 3.4 x 24.3 cm

ISBN-10: 0471731722 ISBN-13: 9780471731726